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二階相干度HBT測量儀
光場的高階相關性符合測量——HBT實驗設備
二階相關度HBT測量儀——光場的高階相關性符合測量。二階相關度HBT測量儀由光纖分束器,兩個單光子探測器和一個時數(shù)轉換器TDC。TDC記錄探測事件的到達時間,用以評估計算二階相關函數(shù)g(2)(τ)
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上海昊量光電推出二階相干度HBT測量儀。由光纖分束器,兩個單光子探測器和一個時數(shù)轉換器TDC。TDC記錄探測事件的到達時間,用以評估計算二階相關函數(shù)g(2)(τ)。
用戶能夠通過用戶界面控制整個裝置。軟件計算二階函數(shù)并提供幾種標配擬合函數(shù):熱光,非聚束光,無探測器時間抖動。這些評估和數(shù)據可以保存在文件中。
單光子探測器是硅基SPAD或APD,有效探測波長500nm-900nm。TDCzui小的窗口寬度81ps,如果內探測器不能滿足客戶需求,設備也可以連接外部探測器,此外,在壽命測量應用中還可連接一個外觸發(fā)。
關鍵特性:
l 一體化HBT測量系統(tǒng)
l 計算 g(2) 自相關函數(shù)
l 配備幾種標準函數(shù)
l 高時間分辨率81ps
l 包含外部探測器輸入接口
l 壽命測量用外部觸發(fā)接口
l 集成計數(shù)器
應用領域:
l 單光子源特性描述:量子點,金剛石色心,單離子/原子
l 光子統(tǒng)計測量 (熱,相干性,非經典光源)
l 使用外部同步輸入壽命分析
主要技術參數(shù)
中心波長 | 800nm(客戶需求) |
輸入光纖纖芯 | 62.5um多模 |
zui大計數(shù)率 | >500kcps |
APD時間抖動 | <500ps(FWHM) |
探測效率 | 30%@800nm |
zui小時間分辨率 | 81ps |