Moku:Pro相位計(jì)

Moku:Pro相位計(jì)描述

Moku:Pro的相位計(jì)測量相位(相對于參考時(shí)鐘)多達(dá)四個(gè)輸入信號(hào)，從1 kHz到300 MHz的精度優(yōu)于6 μ弧度?；跀?shù)字實(shí)現(xiàn)的鎖相環(huán)架構(gòu)，Moku:Pro的相位計(jì)提供動(dòng)態(tài)范圍、零死區(qū)和測量精度，超過了傳統(tǒng)鎖相放大器和頻率計(jì)數(shù)器的性能。

Moku:Pro產(chǎn)品發(fā)售宣傳片Moku:Pro 為軟件定義精密測試測量儀器帶來了突破性的創(chuàng)新，它兼具了性能和儀器多功能性，提供高度整合的測試測量與控制一體化解決方案。Moku:Pro將測試和測量帶入現(xiàn)代化時(shí)代，讓工程師和研究人員能夠在儀器之間任意切換，無需使用多個(gè)獨(dú)立的設(shè)備。該平臺(tái)旨在滿足從航空航天到半導(dǎo)體等眾多領(lǐng)域研究人員的需求。Moku:Pro的工具套件特別適合光子學(xué)應(yīng)用，包括光譜學(xué)、顯微鏡學(xué)、計(jì)量學(xué)、度量計(jì)量、引力波探測、激光穩(wěn)定和量子計(jì)算等。Moku:Pro 硬件采用高性能的 Xilinx Ultrascale+ FPGA 與高帶寬模擬前端，并結(jié)合了強(qiáng)大的網(wǎng)絡(luò)連接和存儲(chǔ)能力。通過軟件定義實(shí)現(xiàn)多種測試測量功能從而支持高速數(shù)據(jù)采集、處理和可視化、波形生成和實(shí)時(shí)控制等應(yīng)用場景。此外，Moku:Pro 前端設(shè)計(jì)還創(chuàng)造性地采用了*進(jìn)的混合信號(hào)技術(shù)，執(zhí)行來自多個(gè) ADC 的頻率相關(guān)信號(hào)混合，從而實(shí)現(xiàn)從聲頻到射頻的噪聲性能。

Moku:Pro的相位計(jì)特征

四個(gè)獨(dú)立的相位計(jì)通道輸出選項(xiàng)，跟蹤和記錄兩個(gè)獨(dú)立信號(hào)的相位，頻率和幅度。

鎖相輸出選項(xiàng)，使您可以產(chǎn)生正弦波鎖相輸入。

使用相位計(jì)的集成頻譜分析工具包在頻域觀察測量數(shù)據(jù)。

鎖相環(huán)跟蹤帶寬從10hz到10khz。

標(biāo)準(zhǔn)輸入規(guī)格參數(shù)

測量特性

數(shù)據(jù)可視化

保存數(shù)據(jù)

合成器